高分辨率透射電子顯微鏡

廠家：日本電子公司

型號：JEM－2100

主要技術(shù)指標(biāo)：

電子槍： LaB6（六硼化鑭）

點分辨率：0.19nm

線分辨率：0.14 nm

加速電壓： 80~200kV

最高放大倍數(shù)：150萬倍

單傾樣品臺和雙傾樣品臺±35°/ ±30°

美國Thermo 公司生產(chǎn)的Noran system 7.0 的 X射線能譜儀

應(yīng)用領(lǐng)域：

JEM-2100高分辨透射電子顯微鏡作為一種通用的高分辨率分析電子顯微鏡應(yīng)用非常廣泛，從高分辨率圖像觀察,、極微小領(lǐng)域X射線分析,、通過會聚電子衍射進(jìn)行的晶體結(jié)構(gòu)的精密分析,，到物質(zhì)的電子結(jié)構(gòu)以及結(jié)合狀態(tài)的分析,，在材料開發(fā)和物性研究中都發(fā)揮著巨大作用,。

①對各種材料的物質(zhì)內(nèi)部微觀組織觀察分析,，通過電子衍射及高分辨電子顯微術(shù)可對材料內(nèi)部微結(jié)構(gòu)方面進(jìn)行研究,；

②陶瓷,、礦物,、水泥、半導(dǎo)體,、金屬,、紙張、塑料,、食品,、農(nóng)作物、細(xì)胞等材料的顯微形貌分析,；

③配合X射線能譜儀同時可對微區(qū)元素成份分析,，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料,、物理,、生物,、化學(xué)、環(huán)境,、光電子等領(lǐng)域,；

④粉末、微粒納米樣品形態(tài)和粒度的測定,；

⑤材料中定點元素定性,、定量分析。

收費標(biāo)準(zhǔn)：